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标准号:GB/T 34002-2017 未实施      

中文名称:微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
英文名称:Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy. Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
中标分类:G04 ICS分类:71.040.40
标准分类编号:CN 页数:39
发布日期:2017-07-12 实施日期:2018-06-01 作废日期: - -
被替代标准: 代替标准序号:
引用标准:GB/T 27025-2008;ISO GUIDE 30-1992;ISO GUIDE 34-2000;ISO GUIDE 35-2006;ISO/IEC GUIDE 98-3-2008;ISO 5725-1-1994
采用标准化:ISO 29301-2010,IDT
补充修订:
标引依据:国家标准公告2017年第18号
标准摘要:本标准规定了透射电镜(TEM)在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构,例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺,但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜(CD-TEM)和扫描透射电镜(STEM)。
 
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